Caracterización de materiales y superficies

El estudio de las propiedades morfológicas de la superficie de los materiales es la clave para entender el comportamiento de los mismos y fabricarlos para cumplir con una seré de requisitos que les den utilidad práctica. Telstar trabaja con diferentes representadas cuyos equipos permiten estudiar las propiedades superficiales de los materiales (Elipsometría, perfilómetría, microscopía de fuerza atómica – AFM), y con otras técnicas que permiten crear estructuras con capas delgadas (atomic Layer Deposition, Supttering).

Veeco - Marca representada por Telstar

Veeco ALD

El depósito de capas atómicas es una técnica muy prometedora con aplicaciones potenciales en una amplia gama de industrias, incluyendo la energética, óptica, electrónica, nanoestructuras y biomédica.

SEMILAB - Marca representada por Telstar

Semilab

Semilab tiene una sólida formación científica y una larga historia de excelente cooperación con clientes académicos con el fin de desarrollar soluciones a medida para aplicaciones de I+D en semiconductores, fotovoltaica …

IONTOF - Marca representada por Telstar

IONTOF

IONTOF es un fabricante de instrumentos innovadores para análisis de superficies con diferentes líneas de productos para espectrometría de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo (TOF-SIMS) …

BRUKER - Marca representada por Telstar

División Bruker Nano Surfaces

Bruker Nano Surface proporciona instrumentos de análisis de superficie. Los equipos de Bruker son líderes de mercado, tanto en el campo de la investigación, como en la industria.

AJA International - Marca representada por Telstar

AJA International

AJA es un fabricante de sistemas de deposición de película delgada que incorporan diferentes técnicas como pulverización de magnetrón, evaporación de haz electrónico, evaporación térmica …