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Bruker nano surfaces

Bruker Nano Surface proporciona instrumentos de análisis de superficie. Los equipos de Bruker son líderes de mercado, tanto en el campo de la investigación, como en la industria.

BRUKER - Marca representada por Telstar

La linea de Bruker incluye una amplia variedad de equipos de análisis de superficies 2D y 3D, que son capaces de suministrar la información necesaria de manera rápida, precisa y simple, neceasria para resolver preguntas relacionadas con I+D, QA/QC y realizar mediciones de superficie.

Los AFM de Bruker ayudan a científicos de todo el mundo en sus avances diarios, mejorando el conocimiento sobre materiales y sistemas biológicos. Una gama de tribómetros y testadores mecánicos proporciona datos esenciales utilizados para desarrollar nuevos materiales y sistemas tribológicos.
Cualquiera que sea el material o el análisis, desde escala de laboratorio hasta la industrial, Bruker tiene una solución especializada.

Productos

Microscopio de fuerza atómica de alta resolución (AFM)

El microscopio de fuerza atómica (AFM), que ahora entra en su cuarta década como tecnología principal para la investigación de materiales avanzados, se ha utilizado para impulsar el descubrimiento en una gama casi incontable de disciplinas y aplicaciones.

Bruker ha liderado la expansión de las capacidades de los microscopios de fuerza atómica, comenzando con la introducción del primer sistema comercial en la década de 1980. Desde entonces, nuestro compromiso de ayudarle a hacer más y más fácilmente ha mantenido a los AFM de Bruker a la vanguardia de la innovación en instrumentación. A medida que la tecnología ha ido madurando, nuestros AFM, impulsados por la tecnología exclusiva PeakForce Tapping® , han proporcionado constantemente datos de alta resolución altamente confiables y han permitido a los científicos caracterizar características en muestras cada vez más complejas. Esta calidad y confiabilidad de los datos se extiende a algo más que la topografía; Los científicos de los principales laboratorios de todo el mundo están utilizando los AFM de Bruker para avanzar en nuevas investigaciones nanomecánicas, nanoeléctricas y nanoelectroquímicas.

El sistema de microscopio de fuerza atómica (AFM) Dimension FastScan® está diseñado específicamente para escanear rápidamente sin pérdida de resolución, pérdida de control de fuerza, complejidad adicional o costos operativos adicionales. Con FastScan obtendrá imágenes AFM inmediatas con la alta resolución esperada de un AFM de alto rendimiento. Ya sea que escanee a >125 Hz al examinar una muestra para encontrar la región de interés, o a velocidades de tiempo de 1 segundo por cuadro de imagen en aire o fluido, FastScan redefine la experiencia AFM.

Dimension Icon® de Bruker ofrece los más altos niveles de rendimiento, funcionalidad y accesibilidad AFM a investigadores a nanoescala en la ciencia y la industria. Basada en la plataforma AFM de muestras grandes más utilizada del mundo, es la culminación de décadas de innovación tecnológica, comentarios de los clientes y flexibilidad de aplicaciones líder en la industria. El sistema ha sido diseñado de arriba a abajo para ofrecer la revolucionaria baja deriva y bajo ruido que permite a los usuarios lograr imágenes sin artefactos en minutos en lugar de horas. Con un catálogo cada vez mayor de extensiones de hardware y software, este rendimiento inigualable es accesible para los investigadores en la más amplia gama de aplicaciones, respaldando incluso los objetivos de investigación más avanzados e innovadores.

Los sistemas de microscopio de sonda de barrido (SPM) Dimension XR de Bruker incorporan décadas de investigación e innovación tecnológica. Con resolución rutinaria de defectos atómicos y una serie de tecnologías únicas que incluyen PeakForce Tapping® , modos DataCube, SECM y AFM-nDMA, ofrecen el máximo rendimiento y capacidad. La familia de SPM Dimension XR empaqueta estas tecnologías en soluciones llave en mano para abordar aplicaciones nanomecánicas, nanoeléctricas y electroquímicas. La cuantificación de materiales y sistemas activos a nanoescala en entornos aéreos, fluidos, eléctricos o químicamente reactivos nunca ha sido tan fácil.

Dimension Edge™ incorpora la tecnología PeakForce Tapping® de Bruker para proporcionar los niveles más altos de rendimiento, funcionalidad y accesibilidad del microscopio de fuerza atómica (AFM) en su clase. Basado en la plataforma Dimension Icon, el sistema Edge ha sido diseñado de arriba a abajo para ofrecer la baja deriva y el bajo ruido necesarios para lograr datos listos para su publicación en minutos en lugar de horas, todo a precios muy por debajo de las expectativas para dicho rendimiento. La retroalimentación visual integrada y las configuraciones preconfiguradas permiten obtener resultados de nivel experto de manera simple y consistente, poniendo las capacidades y técnicas más avanzadas de AFM para muestras grandes a disposición de todas las instalaciones y usuarios.

Multimode® 8 HR. La larga historia de éxito de la plataforma MultiMode® se basa en su combinación de resolución superior, rendimiento, versatilidad y productividad incomparables. El microscopio de fuerza atómica (AFM) MultiMode 8-HR avanza aún más estas capacidades para proporcionar mejoras significativas en la velocidad de obtención de imágenes, la resolución y el rendimiento nanomecánico con PeakForce Tapping® de mayor velocidad, PeakForce QNM® mejorado, nuevo FASTForce Volume y tecnología exclusiva de sondas Bruker.

El microscopio de fuerza atómica (AFM) compacto Innova® ofrece flexibilidad de aplicación para las investigaciones científicas más exigentes a un costo moderado. Su exclusivo sistema de linealización de escaneo de circuito cerrado garantiza mediciones precisas y niveles de ruido cercanos a los del funcionamiento de circuito abierto. La óptica de color integrada de alta resolución, el escenario abierto y el selector de experimentos de software hacen que la configuración de cada nuevo experimento sea rápida y sencilla. Con su conjunto de funciones altamente personalizable, Innova ofrece el máximo valor para imágenes de alta resolución y una amplia gama de funcionalidades en la investigación de ciencias físicas, biológicas y de materiales.

Espectrómetros IR

Utilizando la tecnología fototérmica AFM-IR exclusiva de Bruker, nuestros espectrómetros infrarrojos a nanoescala (nanoIR) ofrecen las capacidades de análisis químico a nanoescala más fáciles de usar y más productivas del mundo. Estas soluciones innovadoras proporcionan identificación química y caracterización de materiales a nanoescala en una amplia gama de aplicaciones en ciencia de materiales y ciencias de la vida, incluidos polímeros , materiales 2D y microelectrónica. Gracias a los datos fáciles de interpretar y a la física bien entendida del AFM-IR fototérmico, los espectrómetros nanoIR han sido adoptados por científicos destacados de las principales universidades de investigación, laboratorios nacionales y empresas líderes en productos químicos y materiales de todo el mundo.

El sistema nanoIR de muestras grandes Dimension IconIR300™ proporciona caracterización a nanoescala de alta velocidad y alta precisión para aplicaciones de semiconductores, con capacidades, tamaño de muestra y flexibilidad de tipo de material incomparables. A través de su combinación de espectroscopía IR fototérmica patentada y capacidades de mapeo de propiedades AFM a nanoescala, IconIR300 permite la inspección automatizada de obleas y la identificación de defectos en la más amplia gama de muestras de obleas y fotomáscaras. El sistema amplía significativamente la aplicación de la tecnología AFM-IR a segmentos de la industria de semiconductores más allá del alcance de las técnicas tradicionales.

Construido sobre la innovadora arquitectura de muestras grandes del sistema Dimension IconIR, IconIR300 proporciona microscopía correlativa e imágenes químicas, así como resolución y sensibilidad mejoradas. Integrado con el manejo automatizado de obleas y un software avanzado de recopilación/análisis de datos, el sistema permite un mayor ahorro de tiempo y costos y una mayor eficiencia de producción.

El sistema Dimension IconIR de muestras grandes de Bruker combina espectroscopia infrarroja (IR) a nanoescala y microscopía de sonda de barrido (SPM) en una plataforma para ofrecer las capacidades más avanzadas de espectroscopia, imágenes y mapeo de propiedades disponibles para investigadores académicos y usuarios industriales. Al incorporar décadas de investigación e innovación tecnológica, IconIR proporciona un rendimiento incomparable basado y desarrollado en las mejores capacidades de medición AFM de la industria de Dimension Icon®. El sistema permite microscopía correlativa e imágenes químicas con resolución mejorada y sensibilidad monocapa, mientras que su arquitectura única de muestras grandes proporciona la máxima flexibilidad de muestras para la más amplia gama de aplicaciones. Por ejemplo, la nueva solución de polímeros IconIR es un paquete todo en uno diseñado para incluir todo lo que uno necesitaría para abordar las necesidades clave de investigación de polímeros.

El sistema Anasys nanoIR3-s de Bruker combina microscopía óptica de campo cercano de barrido de dispersión (s-SNOM) y espectroscopia IR a nanoescala (AFM-IR) con un microscopio de fuerza atómica (AFM) integrado, todo en una sola plataforma. Aprovechando el legado del liderazgo tecnológico de Anasys en la caracterización nanoóptica basada en AFM, nanoIR3-s proporciona espectroscopia IR a nanoescala, imágenes químicas y mapeo de propiedades ópticas con una resolución espacial de 10 nanómetros demostrada en muestras de materiales 2D. El sistema también permite obtener imágenes topográficas AFM y mapear propiedades de materiales con resolución a escala nanométrica, lo que lo convierte en un instrumento ideal para estudios correlativos en una amplia gama de aplicaciones de ciencia de materiales. El nanoIR3-s con opción de banda ancha agrega la última tecnología láser de femtosegundo OPO/DFG para proporcionar el rango espectral más amplio disponible (670 a 4000 cm⁻¹) con capacidades de imágenes nanoquímicas y nanoópticas de alta resolución.

Microscopía optica 3D

Bruker es el proveedor líder de la industria de soluciones de inspección y medición de superficies 3D, y ofrece sistemas para análisis sin contacto rápidos, confiables y fáciles de usar con la mejor precisión de su clase en muestras que varían en tamaño, desde MEMS microscópicos hasta motores completos. bloques. Proporcionan a los investigadores e ingenieros de I+D, fabricación y control de calidad la sensibilidad y estabilidad líderes en la industria necesarias para mediciones precisas de superficies en 3D en aplicaciones y entornos que suponen un desafío para otros sistemas de metrología.

Basados en diez generaciones de tecnología patentada de interferometría de luz blanca (WLI) Wyko® y los avances de Bruker, nuestros sistemas de metrología de perfiles ópticos tienen un historial comprobado de soporte de investigación y desarrollo, control de calidad y control de calidad de vanguardia en laboratorios y entornos de producción en todo el mundo.

El perfilómetro óptico ContourX-100 establece un nuevo punto de referencia para la metrología de superficies sin contacto precisa y repetible al mejor precio de su clase. El sistema de pequeño tamaño ofrece capacidades de medición de alta resolución 2D/3D sin concesiones en un paquete optimizado que incorpora décadas de innovación patentada de interferometría de luz blanca (WLI) de Bruker. Las mejoras de próxima generación incluyen una nueva cámara de 5 MP y una plataforma actualizada para mayores capacidades de costura, y un nuevo modo de medición, USI, para una comodidad y flexibilidad aún mayores para superficies mecanizadas con precisión, películas gruesas y aplicaciones de tribología. No encontrará un sistema de mesa con mejor valor que el ContourX-100.

El perfilómetro óptico ContourX-200 proporciona la combinación perfecta de caracterización avanzada, opciones personalizables y facilidad de uso para una metrología de superficies 3D sin contacto, rápida, precisa y repetible, la mejor de su clase. El sistema de tamaño reducido y con capacidad para medidores ofrece capacidades de medición de alta resolución 2D/3D sin concesiones utilizando una cámara digital FOV de 5 MP más grande y una nueva plataforma XY motorizada. Con una resolución y precisión inigualables del eje Z, el ContourX-200 ofrece todas las ventajas reconocidas en la industria de la tecnología de interferometría de luz blanca (WLI) patentada de Bruker sin las limitaciones de los microscopios confocales convencionales y los perfiladores ópticos estándar de la competencia.

El perfilómetro óptico ContourX-500 es el sistema de mesa automatizado más completo del mundo para una metrología de superficies 3D rápida y sin contacto. El ContourX-500 con capacidad de medición cuenta con una resolución y precisión inigualables en el eje Z, y proporciona todas las ventajas reconocidas en la industria de los modelos de piso de interferometría de luz blanca (WLI) de Bruker en un espacio mucho más pequeño. El perfilador se personaliza fácilmente para la más amplia gama de aplicaciones complejas, desde metrología de control de calidad y control de calidad de superficies mecanizadas con precisión y procesos de semiconductores hasta caracterización de investigación y desarrollo para dispositivos oftálmicos y MEMS.

El interferómetro de luz blanca (WLI) de suelo ContourX-1000 hace que la obtención de mediciones de textura y rugosidad de superficies reales en 3D de calidad sea fácil y rápida. Al incorporar más de 30 años de innovación y nuestro software y tecnología patentados más recientes, este sistema de metrología proporciona el rápido tiempo de obtención de resultados y la repetibilidad por los que son conocidos los perfiladores ópticos de Bruker, con un mayor rendimiento y una facilidad aún mayor para el operador.

Con capacidades de automatización completa, una experiencia de usuario sencilla y recetas de análisis y configuración de medición optimizadas, el ContourX-1000 ofrece la metrología más exacta y precisa en casi cualquier superficie, por cualquier operador, incluso en instalaciones de producción de alto volumen con múltiples usuarios.

El interferómetro de luz blanca (WLI) de piso NPFLEX-1000 ofrece la solución más precisa y flexible para evaluar características nano y macro en piezas grandes en el control de calidad y control de calidad del mecanizado de precisión. Las características clave incluyen un pórtico abierto de gran tamaño, una arquitectura de puente robusta y un diseño de cabezal giratorio con 300 mm de distancia entre la platina y los objetivos. Este diseño exclusivo permite que NPFLEX-1000 se adapte a la más amplia variedad de tamaños y formas de muestras y acceda a las orientaciones más desafiantes.

Con este diseño único, combinado con las ventajas de facilidad de uso de nuestra tecnología de perfilador óptico de próxima generación, NPFLEX-1000 ofrece mediciones de textura y rugosidad de superficies con capacidad de medición con el rendimiento y la repetibilidad que los operadores necesitan en sectores dinámicos como el automotriz y el médico. y fabricación aditiva a gran escala.

El sistema de metrología de panel grande ContourSP duplica con creces el rendimiento de medición de sustratos de PCB de interconexión de alta densidad (HDI-PCB) en comparación con los instrumentos WLI de la generación anterior. El sistema está diseñado específicamente para medir cada capa de los paneles de PCB durante la fabricación e incorpora una serie de características avanzadas que brindan el máximo rendimiento de producción, conveniencia, confiabilidad y rendimiento para la industria de embalaje de semiconductores. El ContourSP con capacidad de medición utiliza una interfaz de producción intuitiva que ofrece una alineación fiducial rápida y sencilla con entrada de usuario configurable.

El sistema de perfilado de superficies de gran formato 3D HD9800+ es el perfilador óptico más avanzado del mundo para metrología deslizante de almacenamiento de datos en línea. El sistema combina la tecnología de caracterización óptica con capacidad de medición con automatización avanzada para permitir un rendimiento optimizado de medición de planitud y PTR. HD9800+ incorpora décadas de experiencia en metrología industrial HD utilizando interferometría de luz blanca (WLI), autocalibración, iluminación LED de alta intensidad, software fácil de usar y una serie de otras características para proporcionar un rendimiento robusto, de alta resolución y no destructivo. que los fabricantes de almacenamiento de datos necesitan para mejorar la calidad del proceso y aumentar el rendimiento.

Perfilómetros mecánicos

Los perfiladores ópticos Dektak® de Bruker son la culminación de más de cinco décadas de avances tecnológicos patentados. Proporcionan mediciones repetibles, confiables y precisas, desde mediciones tradicionales de altura de escalones y caracterización de superficies de rugosidad en 2D hasta mapeo 3D avanzado y análisis de tensión de películas. Los perfiladores de superficies Dektak han sido ampliamente aceptados como el estándar de oro para medir el espesor de películas delgadas, la tensión, la rugosidad de la superficie y la forma en diversas áreas de aplicaciones, desde la investigación académica hasta el control de procesos de semiconductores.

El perfilómetro DektakXT® presenta un diseño de mesa revolucionario que permite una repetibilidad inigualable de 4 Å y una mejora de hasta un 40 % en las velocidades de escaneo. Este importante hito en el rendimiento del lápiz perfilador es la culminación de más de cincuenta años de innovación y liderazgo en la industria de Dektak®. A través de su combinación de primicias en la industria, DektakXT ofrece lo último en rendimiento, facilidad de uso y valor para permitir un mejor monitoreo de procesos desde I+D hasta control de calidad. Los avances tecnológicos incorporados en DektakXT permiten mediciones de superficies críticas a nivel nanométrico para las industrias de microelectrónica, semiconductores, energía solar, LED de alto brillo, medicina y ciencia de materiales.

El perfilómetro óptico Dektak XTL ™ admite muestras de hasta 350 mm x 350 mm, lo que brinda la repetibilidad y reproducibilidad legendarias de Dektak ® a la fabricación de paneles y obleas de gran formato. El Dektak XTL cuenta con aislamiento de vibración neumático y una estación de trabajo completamente cerrada con puerta entrelazada de fácil acceso, lo que lo hace ideal para los exigentes entornos de producción actuales. Su arquitectura de doble cámara permite una mayor conciencia espacial y su alto nivel de automatización maximiza el rendimiento de fabricación.

Tribómetros y testadores mecánicos

La investigación de materiales y cómo se pueden cambiar para influir en la resistencia, la integridad o la durabilidad es una parte integral del diseño y la mejora de productos en casi todas las industrias. Los tribómetros y probadores mecánicos de Bruker proporcionan los medios más completos y versátiles para investigar la tribología: fricción, desgaste, carga, dureza y lubricación. Medir la fricción, el desgaste y las propiedades mecánicas de los materiales es una manera para que los ingenieros comprendan cómo los materiales, los recubrimientos y los lubricantes resistirán los rigores de diversas aplicaciones, desde la industria pesada hasta los semiconductores, desde la automoción hasta la biomédica.

La plataforma Universal Mechanical Tester (UMT) de Bruker ha sido el tribómetro más versátil y ampliamente utilizado en el mercado desde que debutó el primer modelo en 2000. Ahora, con un nuevo diseño desde cero, el UMT TriboLab™ se basa en ese legado de versatilidad con una concepto modular que aprovecha más funcionalidad que nunca, todo sin comprometer el rendimiento. De hecho, UMT TriboLab ofrece velocidades más altas, más torque y mejor medición de fuerza que cualquiera de sus competidores, además presenta nuevas y poderosas características para mejorar la eficiencia y la facilidad de uso.

TriboLab CMP aporta un conjunto completo de capacidades a la plataforma TriboLab líder en la industria. La precisión resultante y la repetibilidad de las mediciones permiten la calificación, inspección y pruebas de funcionalidad continuas altamente efectivas necesarias durante todo el proceso CMP. TriboLab CMP es la única herramienta de desarrollo de procesos en el mercado que puede proporcionar una amplia gama de mediciones de presión de pulido (0,05-50 psi), velocidades (1 a 500 rpm), fricción, emisiones acústicas y temperatura de la superficie para una caracterización precisa y completa de Procesos y consumibles CMP.

El probador de materiales de fricción de alto torque TriboLab HD permite estudios de fricción de frenos, desgaste y emisiones de partículas más precisos y repetibles de lo que antes era posible en un laboratorio. Este sistema presenta la tecnología más avanzada y ofrece la más amplia gama de capacidades de prueba, el mayor control sobre los parámetros y condiciones de la prueba y la mayor fuerza de torsión en un sistema de prueba de investigación, así como soporte para el análisis de partículas de frenos. Con la capacidad de simular los protocolos SAE J2522 y otros estándares en el laboratorio, TriboLab HD proporciona los datos necesarios para tomar decisiones críticas en una fase más temprana del proceso de desarrollo del material de frenos, cerrando la brecha entre la mesa de dibujo y las pruebas con dinamómetro de los materiales de las pastillas de freno y del rotor. . TriboLab HD permite de manera única a los ingenieros y fabricantes reducir el tiempo de desarrollo y cumplir con los estándares emergentes y las demandas de los consumidores, al mismo tiempo que reducen los costos y se mantienen por delante de sus competidores.

Instrumentos de prueba nanomecánicos

Los sistemas de prueba nanomecánicos de Bruker ofrecen el más alto grado de rendimiento, precisión, confiabilidad y versatilidad para la caracterización mecánica y tribológica cuantitativa a nanoescala y microescala. Utilizando múltiples tecnologías patentadas y patentadas, la línea de productos Hysitron de sistemas de prueba nanomecánicos independientes permite la caracterización cuantitativa en escalas de longitud inalcanzables por otros. Combinados con el conjunto más completo de técnicas de caracterización híbrida, los nanoindentadores TI 990 TriboIndenter, TI 980 TriboIndenter, TI Premier Series y TS 77 Select mantendrán su desarrollo de materiales a la vanguardia de la tecnología.

El Hysitron TI 990 TriboIndenter® de próxima generación de Bruker establece nuevos estándares de rendimiento, flexibilidad y usabilidad en la caracterización nanomecánica y nanotribológica. Un avance integral de la plataforma TriboIndenter líder en la industria de Bruker, cada aspecto del proceso de medición y análisis de TI 990 presenta tecnologías actualizadas diseñadas para eliminar las limitaciones normales de los sistemas de nanoindentador. Como tal, este sistema presenta la mayoría de los modos de medición disponibles y ofrece mediciones de alta precisión en la más amplia gama de entornos de laboratorio.

El Hysitron TI 980 ofrece rendimiento, flexibilidad y confiabilidad de medición ultra altos para la caracterización nanomecánica y nanotribológica cuantitativa de materiales, sólo superado por el nuevo Hysitron TI 990 TriboIndenter de Bruker,. La potente configuración básica del sistema incluye nanoindentación cuasiestática, nanoindentación dinámica, mapeo de propiedades mecánicas XPM, nanoscratch, nanodesgaste e imágenes SPM in situ como estándar. Combinado con el conjunto más amplio de actualizaciones técnicas, la TI 980 se adapta para satisfacer sus requisitos de prueba futuros. De hecho, hay sistemas originales TI 900 TriboIndenter que todavía se están actualizando para satisfacer las necesidades de caracterización en constante evolución en los principales institutos de investigación.

El nanoindentador Hysitron TI Premier de Bruker fue diseñado específicamente para ofrecer una caracterización nanomecánica cuantitativa líder en la industria dentro de una plataforma compacta. Construido sobre la tecnología probada de Hysitron, el TI Premier proporciona un amplio conjunto de técnicas de prueba tribológicas y mecánicas a nanoescala. Se pueden realizar mediciones de rutina para avanzar en la investigación utilizando las configuraciones básicas versátiles de TI Premier, mientras que se encuentran disponibles numerosas opciones de actualización de técnicas para satisfacer las demandas de sus futuras necesidades de caracterización.

El Hysitron TS 77 Select es un sistema de pruebas nanomecánicas y nanotribológicas de sobremesa automatizado que proporciona el más alto nivel de rendimiento, funcionalidad y accesibilidad de cualquier instrumento de su clase. Construido alrededor de la reconocida tecnología de transductor capacitivo TriboScope de Bruker, este nuevo sistema de prueba ofrece una caracterización mecánica y tribológica confiable en escalas de longitud de nanómetro a micrómetro. TS Select, que admite los modos de prueba más destacados, es una entrada asequible a la nanoindentación cuantitativa, la nanoindentación dinámica, el nanoscratch, el nanodesgaste y el mapeo de propiedades mecánicas de alta resolución.

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