IONTOF es un fabricante de instrumentos innovadores para análisis de superficies con diferentes líneas de productos para espectrometría de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo (TOF-SIMS) y dispersión de iones de baja energía y alta sensibilidad (LEIS).
Fundada como una spin-off clásica de la Universidad de Münster, IONTOF se ha convertido en el líder tecnológico en el campo de la instrumentación TOF-SIMS y LEIS.
La misión de IONTOF es desarrollar tecnología de análisis de superficies y ampliar su potencial para aplicaciones futuras. Un considerable esfuerzo de investigación, así como una estrecha cooperación con nuestros clientes, crearán nuevas posibilidades, manteniendo así nuestros instrumentos a la vanguardia de la tecnología.
El éxito de IONTOF se basa en la larga experiencia en el campo y las habilidades de nuestros científicos e ingenieros. La excelente atención al cliente y la estrecha cooperación con ellos, y la dedicación para suministrar un producto bueno y eficiente que satisfaga las demandas de los usuarios modernos son parte de nuestra naturaleza.
La tecnología SIMS un paso por delante. El M6 es la última generación de instrumentos TOF-SIMS de alta gama desarrollados por IONTOF. Su diseño garantiza un rendimiento superior en todos los campos de aplicaciones SIMS. Las innovadoras tecnologías de analizador de masas y haz de iones hacen del M6 el punto de referencia en instrumentación SIMS y la herramienta ideal para la investigación industrial y académica.
La herramienta para la nano caracterización. La información sobre la composición química, las propiedades físicas y la estructura tridimensional de materiales y dispositivos a escala nanométrica es de gran importancia para los nuevos avances en nanociencia y nanotecnología. En una medición SIMS 3D, la topografía inicial de la superficie de la muestra, así como los cambios topográficos durante el experimento, no se pueden identificar fácilmente. La microscopía de sonda de barrido (SPM) proporciona información complementaria sobre la topografía de la superficie y también se puede utilizar para medir las propiedades físicas de lo analizado muestra.
Mediante la combinación de estas dos técnicas se hace posible obtener imágenes químicas tridimensionales in situ. La plataforma M6 Plus combina el rendimiento de alta gama del M6 con la posibilidad de realizar mediciones SPM in situ. La unidad SPM de área grande tiene un rango de escaneo de hasta 80 x 80 x 10 µm 3 y es ideal para proporcionar información topográfica para mediciones SIMS 3D reales.
El análisis de superficies se une a la espectrometría de masas orgánicas. La información sobre la composición química, las propiedades físicas y la estructura tridimensional de materiales y dispositivos a escala nanométrica es de gran importancia para los nuevos avances en nanociencia y nanotecnología. En una medición SIMS 3D, la topografía inicial de la superficie de la muestra, así como los cambios topográficos durante el experimento, no se pueden identificar fácilmente. La microscopía de sonda de barrido (SPM) proporciona información complementaria sobre la topografía de la superficie y también se puede utilizar para medir las propiedades físicas de lo analizado. muestra.
Mediante la combinación de estas dos técnicas se hace posible obtener imágenes químicas tridimensionales in situ. La plataforma M6 Plus combina el rendimiento de alta gama del M6 con la posibilidad de realizar mediciones SPM in situ. La unidad SPM de área grande tiene un rango de escaneo de hasta 80 x 80 x 10 µm 3 y es ideal para proporcionar información topográfica para mediciones SIMS 3D reales.
AJA International
AJA es un fabricante de sistemas de deposición de película delgada que incorporan diferentes técn...
Bruker nano surfaces
Bruker Nano Surface proporciona instrumentos de análisis de superficie. Los equipos de Bruker son l...
Veeco ALD
El depósito de capas atómicas es una técnica muy prometedora con aplicaciones potenciales en una ...
Semilab
Semilab tiene una sólida formación científica y una larga historia de excelente cooperación con ...
