Para todas sus necesidades metrológicas.

Semilab tiene una sólida formación científica y una larga historia de excelente cooperación con clientes académicos con el fin de desarrollar soluciones a medida para aplicaciones de I+D en semiconductores, fotovoltaica, pantallas planas, películas de capa fina y diversas ramas relacionadas con la ciencia de materiales. Todos los sistemas son versátiles y ofrecen una amplia gama de configuraciones para satisfacer la más amplia variedad de necesidades. Por tanto, para lograr las mejores soluciones Semilab está siempre abierto a involucrar el trabajo científico con sus socios para presentar los resultados en conferencias internacionales y publicaciones de alto índice de impacto.

La elipsometría es una técnica de medición óptica absoluta que sigue el cambio de polarización de la luz a medida que pasa a través de un medio. La fase de la luz polarizada presenta una distorsión debido a la estructura de la capa durante la reflexión, lo que permite obtener propiedades de la estructura de los materiales del medio.

Además, la distorsión en la polarización puede ser determinada por varios métodos, donde diferentes componentes ópticos modulan la polarización de la luz. Semilab aplica el diseño de compensador giratorio más avanzado, donde un compensador de banda ancha introduce un cambio de fase relacionado con el ángulo de rotación para determinar la elipsometría.

Por lo tanto, como la elipsometría es una metrología indirecta, el modelado y el ajuste de parámetros para la estructura real es obligatorio para extraer los valores del índice de espesor y de la refracción. El software analizador de la elipsometría espectroscópica (SEA) de Semilab proporciona una amplia gama de métodos para construir un modelo de las estructuras reales, así como un potente algoritmo para ajustar los parámetros del modelo y obtener así los valores de interés.


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